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▎FLASH检测及寿命预测设备
FLASH检测及寿命预测设备是忆数存储在基于原有的固态存储技术上，
自主开发出的FLASH检测技术设备。
该设备可预测出FLASH写次数并可检测出潜在坏块，
对于填补我国FLASH技术领域空白以及军工和工业固态存储领域具有重要意义。
NAND FLASH从MLC过渡到3D TLC
原厂为了提高容量降低成本，只能牺牲NAND FLASH的寿命和质量
因此测试技术及设备的需求将在未来2—3年内呈现井喷式增长
FLASH质量千差万别
目前FLASH质量由国外厂商定义，且并无行业标准
导致国内进口FLASH质量千差万别
造成存储行业价格、质量、种类均处于混乱状态
各行业质量要求不同
军工存储、车载、数据中心、无人汽车、
5G应用等新兴行业对于FLASH质量要求各不相同
过去MLC的质量可以满足应用
但是随着3D TLC密度和容量的增大，质量问题凸显
因此，需要选择性或筛选后进行应用
